Wyświetl port
Złącze portu wyświetlacza
● Specyfikacje produktu
| Aktualna ocena: | 0,5 A | ||||||||
| Napięcie znamionowe: | AC 40 V | ||||||||
| Rezystancja kontaktu: | Styk: 30mΩ maks. Obudowa: 50mΩ maks. | ||||||||
| Temperatura robocza: | -20℃~+85℃ | ||||||||
| Rezystancja izolacji: | 100 MΩ | ||||||||
| Wytrzymałość napięcia | 500V AC/60S | ||||||||
| Maksymalna temperatura przetwarzania: | 260 ℃ przez 10 sekund | ||||||||
| Materiał kontaktowy: | Stop miedzi | ||||||||
| Materiał obudowy: | Termoplastyczny do wysokich temperatur. UL 94V-0 | ||||||||
● Rysunki wymiarowe
● ZAKRES
Niniejsza specyfikacja produktu obejmuje wymagania dotyczące parametrów mechanicznych, elektrycznych i środowiskowych oraz metody testowania produktów z serii złączy Display Port o rastrze 1,0 mm.
● PROJEKT, KONSTRUKCJA I MATERIAŁY:
Złącze powinno mieć projekt, budowę, wymiary fizyczne i materiały określone na odpowiednim rysunku handlowym.
● WYDAJNOŚĆ I OPIS TESTU:
3.1 Wymagania dotyczące wydajności: Złącze powinno być zaprojektowane tak, aby spełniało wymagania dotyczące wydajności elektrycznej, mechanicznej i środowiskowej określone w paragrafie 5
3.2 Napięcie znamionowe: 40 V AC
3.3 prąd znamionowy: 0,5a
3.4 Zakres temperatury roboczej: -20 ℃ do +85 ℃
● WYMAGANIA I PROCEDURY TESTOWE
| OBIEKT TESTOWY | STAN TESTOWY | WYMÓG |
| Wygląd | Oględziny | Spełnij wymagania rysunku produktu.Brak uszkodzeń fizycznych. |
| PARAMETRY ELEKTRYCZNE | ||
| Niski poziom rezystancji styku | Dopasowane złącze, styki: mierzone w obwodzie suchym, maks. 20 mV, 10 mA.(EIA-364-23) Obudowa: mierzone w obwodzie otwartym, maks. 5 V, 100 mA. | Styk: maks. 30 mΩ; Obudowa: 50mΩ maks. |
| Dielektryk wytrzymujący napięcie | Niepołączone złącza, przyłożyć 500 V AC (RMS.) przez 1 minutę między sąsiednimi zaciskami lub masą.Dopasowane złącza, przyłożyć 300 V AC (RMS.) przez 1 minutę między sąsiednimi zaciskami lub masą. (EIA-364-20) | Brak awarii |
| Rezystancja izolacji | Niepołączone złącza, przyłożyć 500 V DC między sąsiednimi zaciskami lub masą.Dopasowane złącza, przyłóż 150 V DC między sąsiednimi zaciskami lub masą. (EIA-364-21) | Min. 100 MΩ (bez połączenia), Min. 10 MΩ (połączony) |
| Skontaktuj się z aktualną oceną | 55 ℃ Maks.otoczenia, 85 ℃ Maks.zmiana temperatury.(EIA-364-70, TP-70) | 0,5 A min. |
| Stosowane napięcie znamionowe | Ciągłe maks. 40 V AC (RMS.), na dowolnym styku sygnałowym względem ekranu. | Bez awarii |
| Wyładowania elektrostatyczne | Testuj niesparowane złącza od 1 kVolt do 8 kV w krokach co 1 kV za pomocą sondy kulowej 8 mm.(IEC61000-4-2) | Brak śladów wyładowania na stykach przy 8 kVoltach. |
| Osłabienie | 300 KHz - 825 MHz: -8 dB 828 MHz - 2,475 GHz: -21 dB 2,475 GHz - 4,125 GHz: -30 dB Test zgodności HDMI Test specyfikacji ID 5-7 | ＜-8 dB (300 KHz - 825 MHz) ＜-21 dB (828 MHz - 2,475 GHz) ＜-30 dB (2,475 GHz - 4,125 GHz) |
| TMDS sygnalizuje impedancję domeny czasu | Obszar złącza: Typ A:100Ω +-10% Obszar przejściowy: 100Ω +-10% Powierzchnia kabla: 100Ω +-5% | 100Ω +/- 10% |
| Brak rozładowania @ 8KV powietrze @ styk 4KV | Brak rozładowania @ 8KV powietrze @ styk 4KV | Brak dowodów wyładowania |
| WYDAJNOŚĆ MECHANICZNA | ||
| Siła wkładania / Siła wyciągania | Wkładanie i wyjmowanie złączy z szybkością 25 ± 3 mm na minutę (EIA-364-13) | Siła wkładania: maks. 44,1 N;Siła wycofania: 9,8 ~ 39,2 N; |
| Siła zatrzasku | Dopasowane złącze, przykładać osiową siłę wyciągania w kierunku osiowym z szybkością 13 mm/minutę, aż zatrzask zostanie odłączony lub uszkodzony. (EIA-364-98) | Siła ciągnąca: 49,0 N min.Brak uszkodzeń na obu złączach. |
| Siła wyciągania terminala | Montowane w obudowie z prędkością 25±3 mm na minutę | 2,94N min. |
| Trwałość | Zmierz rezystancję styku i powłoki po wykonaniu poniższych czynności.Cykle automatyczne: 10000 cykli przy 100 ± 50 cyklach na godzinę (EIA-364-09) | Rezystancja kontaktu: Styk: zmiana od wartości początkowej = 30mΩ maks.;Powłoka: zmiana od wartości początkowej = 50mΩ Max. |
| Wibracja | Amplituda: 1,52 mm PP lub 147 m/s2｛15G｝ Czas przemiatania: 50-2000-50 Hz w 20 minut.Czas trwania: 12 razy w każdej osi X, Y i Z (łącznie 36 razy).Obciążenie elektryczne: Podczas testu powinien płynąć prąd DC 100mA.(EIA-364-28 warunek III metoda 5A) | Rezystancja styku: Styk: Zmiana od wartości początkowej = 30mΩ Maks.;Powłoka: zmiana od wartości początkowej = 50mΩ Max. |
| OCHRONA ŚRODOWISKA | ||
| Szok termiczny | 10 cykli: a) -55℃ przez 30 minut;b) +85℃ przez 30 minut;(EIA-364-32, warunek I) | Rezystancja kontaktu: Styk: zmiana od wartości początkowej = 30mΩ maks.;Powłoka: zmiana od wartości początkowej = 50mΩ Max. |
| Niska temperatura | Żadnych uszkodzeń fizycznych i nieprawidłowości elektrycznych
Temperatura: -25 stopni Czas trwania: 250 godzin | Żadnych uszkodzeń fizycznych;Rezystancja styku: Styk: Zmiana od wartości początkowej = 30mΩ Maks.;Powłoka: zmiana od wartości początkowej = 50mΩ Max. |
| Spray solny | Poddać połączone złącza działaniu temperatury 35+/-20C i 5+/-1% soli przez 48 godzin.Po teście spłucz próbkę wodą i przywróć temperaturę pokojową przez 1 godzinę. (EIA-364-26B) | Niedozwolona jest szkodliwa korozja w obszarze styku i odsłoniętym metalu nieszlachetnym. |
| Wilgotność | (A) Połącz ze sobą złącza i wykonaj test w następujący sposób: Temperatura: +25 do +85 ℃;Wilgotność względna: 80 do 95%;Czas trwania: cztery cykle (96 godzin);Po zakończeniu testu próbki muszą być kondycjonowane w warunkach pokojowych przez 24 godziny, po czym należy wykonać określone pomiary (EIA-364-31) | Bez zniszczeń;Rezystancja styku: Styk: Zmiana od wartości początkowej = 30mΩ Maks.;Powłoka: zmiana od wartości początkowej = 50mΩ Max. |
| (B) Połącz ze sobą niepasujące złącza i wykonaj test w następujący sposób: Temperatura: +25 do +85 ℃;Wilgotność względna: 80 do 95%;Czas trwania: cztery cykle (96 godzin);Po zakończeniu testu próbki muszą być kondycjonowane w warunkach pokojowych przez 24 godziny, po czym należy wykonać określone pomiary (EIA-364-31) | Bez zniszczeń;Zgodność z pozycjami wytrzymałości napięciowej dielektryka i rezystancji izolacji | |
| Starzenie termiczne | Połącz złącza i wystawiaj na działanie +105±20C na 250 godzin.Po zakończeniu okresu ekspozycji próbki testowe należy kondycjonować w warunkach pokojowych przez 1 do 2 godzin, po czym należy wykonać określone pomiary.(EIA-364-17, warunek 4, metoda A) | Bez zniszczeń;Rezystancja styku: Styk: Zmiana od wartości początkowej = 30mΩ Maks.;Powłoka: zmiana od wartości początkowej = 50mΩ Max. |
| Zdolność lutowania | Zanurz końcówki lutownicze w stopionym lucie (utrzymywanym w temperaturze 245 ± 3 ℃) do 1,2 mm od spodu obudowy na 3 ~ 5 sekund. | 95% zanurzonej powierzchni nie może wykazywać pustych przestrzeni, otworów po szpilkach |
| Odporność na ciepło lutowania | Patrz metoda lutowania;Warunki określone w ust. 5 powtarza się dwukrotnie | Bez zniszczeń |
● ZALECANE WARUNKI PRZEPŁYWU PODCZERWIENI:
Wykres stanu temperatury
● SEKWENCJA TESTU
| Przedmiot | Grupa testowa | |||||||||
| G1 | G2 | G3 | G4 | G5 | G6 | G7 | G8 | G9 | G10 | |
| Wygląd | 1,4 | 1,5,9 | 1,5,8 | 1,3 |
| 1 | 1,4 | 1,4 | 1,4 | 1,4 |
| Niski poziom rezystancji styku | 2,5 | 2,6,10 | 6,9 |
|
|
| 2,5 | 2,5 |
| 2,5 |
| Napięcie wytrzymywane przez dielektryk |
|
| 2 |
|
|
|
|
|
|
|
| Rezystancja izolacji |
|
| 3 |
|
|
|
|
|
|
|
| Skontaktuj się z aktualną oceną |
|
|
| 2 |
|
|
|
|
|
|
| Stosowane napięcie znamionowe |
|
|
| 4 |
|
|
|
|
|
|
| Wyładowania elektrostatyczne |
|
|
|
|
| 4 |
|
|
|
|
| Sygnały TMDS Impedancja domeny czasu |
|
|
|
|
| 2 |
|
|
|
|
| Osłabienie |
|
|
|
|
| 3 |
|
|
|
|
| Siła wkładania / Siła wyciągania (bez zatrzasków) |
| 3,7,11 |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Siła zatrzasku |
| (6) |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Siła wyciągania terminala |
|
|
|
| 1 |
|
|
|
|
|
| Trwałość |
| 4,8 |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Wibracja | 3 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| Szok termiczny |
|
| 4 |
|
|
|
|
|
|
|
| Niska temperatura |
|
|
|
|
|
|
|
|
| 3 |
| Wilgotność |
|
| 7 |
|
|
|
|
|
|
|
| Starzenie termiczne |
|
|
|
|
|
| 3 |
|
|
|
| Spray solny |
|
|
|
|
|
|
| 3 |
|
|
| Zdolność lutowania |
|
|
|
|
|
|
|
| 2 |
|
| Odporność na ciepło lutowania |
|
|
|
|
|
|
|
| 3 |
|
| Liczba próbek (ZESTAWY) | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 |
|
UWAGI: Liczby oznaczają kolejność wykonywania testów.
